泰克 Tektronix DSA8200 数字采样示波器

泰克 Tektronix DSA8200 数字采样示波器

特点与优势

· 的采样示波器，用于通信信号分析、TDR/TDT/串行数据网络分析、采集和重复快信号测量

o 采集扩频时钟 （SSC） 信号

o 业界一支持多达 8 个输入通道的大型机，可提高灵活性和吞吐量

o 四个颜色分级、可变持久性波形数据库

o 具有 100 多种自动测量功能的测量系统

o 完整的通信测量套件包括两种类型的 OMA、SSC 配置文件和许多其他类型

o 自动化ITU/ANSI/IEEE模板测试

o 内置 SONET/SDH、FC、以太网和其他标准的模板和测量

o 掩码新可以从工厂提供的文件中加载

o 用于防护条带生产测试的掩模裕量测试

· 采集模块

o 集成的多速率光模块

o 高达 80 GHz 80C10B 的光模块

o 某些模块提供"ER 校准"测量

o 电气模块带宽高达 70+ GHz，测量上升时间高达 5 ps （10-90%）

o 灵活的速率时钟恢复

o 提供具有 SSC（扩频时钟）支持的时钟恢复

· 抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析

o 测量并确定性数据相关抖动与随机抖动分离

o 测量垂直噪声，将确定性数据相关噪声与随机噪声分离

o  BER 和眼部轮廓估计，支持 DDPWS

o FFE/DFE 均衡、发射器均衡

o 针对损耗为 >30 dB 的通道进行通道仿真

o 用于夹具解嵌的线性滤波器，线性滤波

· TDR（时域反射测量）

o 高达 50 GHz 的 TDR 带宽，具有 15 ps 反射上升时间和 12 ps 入射上升时间

o 噪声低，可实现的可重复 TDR 测量结果 – 600 μV断续器在 50 千兆赫时

o 立的采样器纠偏确保轻松的夹具和探头解嵌

o 业界一可容纳多达四个真差分 TDR 或电气通道对的大型机，可提高系统多功能性

· S 参数测量

o 高达50 GHz差分，单端，混合模式;插入损耗、回波损耗、频域串扰、模式转换

o PCI Express、串行 ATA、无滤波器、千兆以太网制造以及千兆位信号路径和互连的标准一致性测试 – 包括眼罩测试

o 直观、简单、准确的串行数据、千兆位数字设计和信号完整性

o 通过命令行界面准确地自动多端口 S 参数测量

· 业界佳标准时基抖动性能，800 fs断续器

· 业界良好的时基抖动性能，<200 fs断续器*1提供相位参考模块

· 采集速率和高吞吐量

· 远程采样器可放置在 DUT 附近，实现**的信号保真度

· 帧扫描™采集模式，具有眼图平均：

o 隔离与数据相关的故障

o 检查低功耗信号

· MS Windows XP Operating System

· 高级连接到 3*三派对软件

应用

· 电信和数据通信组件和系统的设计/验证

· ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 合规性的制造/测试

· 高性能真差分 TDR 测量

· 高级抖动、噪声和 BER 分析

· 串行数据应用的阻抗检定和网络分析，包括 S 参数

· 基于通道和眼图仿真和测量的 SPICE 建模