Tektronix DSA8300 数字采样示波器

Tektronix DSA8300 数字采样示波器

DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持光通信标准、时域反射和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155 Mb/s 至 100Gb/s 及高速率的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
 
功能 优势
电模块信号测量准确度：
低系统抖动（典型 <100 fs）
> 70GHz
<100 fs 本底抖动允许对高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）设备进行检定，典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定（数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波）。
所有带宽上系统噪声业内低：
600 μV 大（450 μV 典型）@ 60 GHz
380 μV 大（280 μV 典型）@ 30 GHz
大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量，避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。 多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试，提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。 为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统，从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太网）和 100 Gb/s 以太网（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波长 850、1310 和 1550nm。
优异的采集吞吐量，采样率高 300 kS/s。 通过优异的系统吞吐量，可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 远程采样头大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化，简化测试系统的反嵌。
立的已校准通道相差校正。 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正，消除时滞，增强多通道测量的信号保真度。
Data Sheet Accessory Description
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80A02 EOS/ESD 保护模块，用于泰克电采样模块的静电隔离；本产品包含一致性声明
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80A03 TEKCONNECT 探头接口模块
80B28G 
8000 系列 - 电采样示波器套装，支持 25/28 Gb/s 标准（包括 80E09B、82A04B、CR286A 和附件）
 
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80C07B 光采样模块；2.488 GB/S OC48/STM16，2.500 GB/S 2GBE，2.500 GB/S 无限带宽；2.5 GHZ 光带宽
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80C08D 
单通道光采样模块；10G 光参考接收机滤波器；12 GHz 光宽带；单模/多模
 
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80C10C 单通道，65/80 GHz 光采样模块（* F1、F2 或 F3 中的一个选件）
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80C11B 
单通道光采样模块；10G 光参考接收机滤波器；28 GHz 光宽带；单模
 
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80C12B 
12 GHz，宽波长，放大光采样模块
 
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80C14 
14+ GHz，宽波长，放大光采样模块
 
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80C15 8000 系列光模块，32GHz，单模/多模，宽波长
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80C17 8000 Series Optical Module: Single channel, 30GHz: single/multi-mode: broad wavelength
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80C18 双重或 2 通道光模块，支持单/多模，以及多速率数据通信和电信 25 Gb/s、100 Gb/s 和 PAM4（适用于 50G/100G/200G/400G）
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80E03 
采样模块；双，20GHZ 电采样模块 - 可追溯校准标准证明
 
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80E04 采样模块；双，20GHZ 带 TDR 电采样模块 - 可追溯校准标准证明
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80E07B 8000 系列，双通道，30 GHz，远程电采样模块（包含 D1）
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80E08B 8000 系列，双通道，30 GHz，远程电采样模块，带 TDR（包含 D1）
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80E09B 8000 系列，双通道，60 GHz，远程电采样模块（包含 D1）
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80E10B 8000 系列，双通道，50 GHz，远程电采样模块，带 TDR（包含 D1）
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80E11 8000 系列，双通道，70 GHz，低抖动，电采样模块（包含 D1）
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80E11X1 8000 系列，单通道，70 GHz，低抖动，电采样模块（包含 D1）
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82A04B 8000 系列，相位参考模块（包括 D1）